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- K系列博曼BOWMAN高精度鍍層測量儀
美國博曼K系列XRF高精度涂層測量系統(tǒng)，具備12英寸×12英寸的測量區(qū)域，適用于多種樣品檢測。
- 型號：K系列
- 更新日期：2024-11-13 ￥面議
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- B系列博曼BOWMAN高性能XRF鍍層測厚儀
B系列是博曼的基礎(chǔ)機(jī)型和常規(guī)機(jī)型。該型號采用自上而下的測量方式。配備固定樣品臺可實(shí)現(xiàn)手動操作。測量時將樣品放入樣品倉，通過觀察視頻圖像來對準(zhǔn)屏幕上十字線內(nèi)的位置來完成測量。
- 型號：B系列
- 更新日期：2024-11-13 ￥面議
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- F54-XYT-300薄膜厚度測量儀
借助F54-XYT-300薄膜厚度測量儀的光譜反射系統(tǒng)，可以快速輕松地測量200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點(diǎn)并提供快速的厚度測量，達(dá)到每秒兩點(diǎn)。您可以從數(shù)十種預(yù)定義的極性，矩形或線性測量坐標(biāo)圖案中選擇，也可以創(chuàng)建自己編輯的不受限制的測量點(diǎn)數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設(shè)置，任何具有基本計算機(jī)技能的人都可以使用。
- 型號：F54-XYT-300
- 更新日期：2024-07-24 ￥面議
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- F54-XY-200薄膜厚度測量儀
借助F54-XY-200薄膜厚度測量儀光譜反射系統(tǒng)，可以輕松地測量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點(diǎn)并提供厚度測量，達(dá)到每秒兩點(diǎn)。您可以從數(shù)十種預(yù)定義的極性，矩形或線性測量坐標(biāo)圖案中選擇，也可以創(chuàng)建自己編輯的測量點(diǎn)數(shù)量。此桌面系統(tǒng)只需幾分鐘即可完成設(shè)置，任何具有基本計算機(jī)技能的人都可以使用。
- 型號：F54-XY-200
- 更新日期：2024-07-24 ￥面議
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- Auto SEHORIBA 一鍵式全自動快速橢偏儀
HORIBA 一鍵式全自動快速橢偏儀是新型的全自動薄膜測量分析工具。采用工業(yè)化設(shè)計，操作簡單，可在幾秒鐘內(nèi)完成全自動測量和分析，并輸出分析報告。是用于快速薄膜測量和器件質(zhì)量控制理想的解決方案。
- 型號：Auto SE
- 更新日期：2023-08-22 ￥面議
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- Smart SEHORIBA 智能型多功能橢偏儀
HORIBA 智能型多功能橢偏儀，多功能性設(shè)計，配置靈活，具備多角度測量能力，可方便實(shí)現(xiàn)在線與離線配置切換。是一款針對單層和多層薄膜進(jìn)行簡單，快速，表征和分析的工具。
- 型號：Smart SE
- 更新日期：2023-06-06 ￥面議
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- UVISEL PlusHORIBA 研究級經(jīng)典型橢偏儀
HORIBA 研究級經(jīng)典型橢偏儀是一種無損無接觸的光學(xué)測量技術(shù)，基于測量線偏振光經(jīng)過薄膜樣品反射后偏振狀態(tài)發(fā)生的改變，通過模型擬合后得到薄膜、界面和表面粗糙層的厚度以及光學(xué)性質(zhì)等等，可測厚度范圍為幾埃至幾十微米。此外，還可以測試材料的反射率及透過率。
- 型號：UVISEL Plus
- 更新日期：2023-06-06 ￥面議
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- F32-Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀
-Filmetrics光學(xué)膜厚測量儀：F32的光譜分析系統(tǒng)采用半寬的3U rack-mount底盤，加上附加的分光計，可達(dá)到四個不同的位置（EXR和UVX版本多兩個位置）。F32軟件可以通過數(shù)字I/O或主機(jī)軟件來控制啟動/停止/復(fù)位測量。測量數(shù)據(jù)可以自動導(dǎo)出到主機(jī)軟件中進(jìn)行統(tǒng)計過程控制。Filmetrics還提供可選的透鏡組件，以便于集成到現(xiàn)有的生產(chǎn)裝置上。
- 型號：F32
- 更新日期：2024-07-24 ￥面議
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