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- F40Filmetrics 光學(xué)薄膜測厚儀
Filmetrics 光學(xué)薄膜測厚儀 F40 結(jié)合顯微鏡的薄膜測量系統(tǒng) ，精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)果。
- 型號：F40
- 更新日期：2024-08-08 ￥面議
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- F60-tFilmetrics 光學(xué)膜厚測量儀
Filmetrics 光學(xué)膜厚測量儀 依靠 F60 的光譜測量系統(tǒng)，可以很簡單快速地獲得薄膜的厚度分布圖。 采用 r-θ 極坐標(biāo)移動平臺，可以非常快速的定位所需測試的點并測試厚度，測試非?？焖伲蠹s每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。 在約 45 秒的時間就可以掃描完標(biāo)準(zhǔn) 49 點分布圖
- 型號：F60-t
- 更新日期：2024-08-08 ￥面議
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