XRF鍍層測(cè)厚儀結(jié)構(gòu)新穎、體積小、重量輕、可靠。由于采用機(jī)電一體結(jié)構(gòu)，整機(jī)運(yùn)轉(zhuǎn)平穩(wěn)，無振動(dòng)，操作簡(jiǎn)單，實(shí)驗(yàn)速度快，降低勞動(dòng)強(qiáng)度。它是一種對(duì)材料表面保護(hù)、裝飾形成的覆蓋層進(jìn)行厚度測(cè)量的儀器，測(cè)量的對(duì)象包括涂層、鍍層、敷層、貼層、化學(xué)生成膜等。

　　XRF鍍層測(cè)厚儀性能優(yōu)勢(shì)：

　　1、采用行業(yè)的數(shù)字多道技術(shù)，有效提高輸出效率，實(shí)現(xiàn)超高計(jì)數(shù)率。

　　2、根據(jù)設(shè)定時(shí)間，儀器可定時(shí)開始測(cè)試。

　　3、X射線聯(lián)動(dòng)安全裝置，光閘與聯(lián)動(dòng)裝置互動(dòng)，儀器外殼與高壓使能端相聯(lián)動(dòng)。

　　4、客戶可預(yù)約儀器開機(jī)時(shí)間，同時(shí)可以儀器預(yù)熱并自動(dòng)檢測(cè)、校正儀器狀態(tài)；同時(shí)可以實(shí)現(xiàn)預(yù)約關(guān)機(jī)，關(guān)機(jī)前可設(shè)定聲光提示。

　　5、樣品更換無需關(guān)閉高壓，提高測(cè)試效率與測(cè)試精度。X射線聯(lián)動(dòng)安全裝置，光閘與聯(lián)動(dòng)裝置互動(dòng)，儀器外殼與高壓使能端相聯(lián)動(dòng)。

　　6、超高清晰工業(yè)攝像頭，更清晰的顯示測(cè)試點(diǎn)，多點(diǎn)測(cè)試。

　　影響XRF鍍層測(cè)厚儀的因素有：

　　1、試件的變形：丈量頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測(cè)出牢靠的數(shù)據(jù)。

　　2、邊緣效應(yīng)：本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行丈量是不牢靠的。

　　3、基體金屬電性質(zhì)：基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)丈量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其資料成分及熱處理方法有關(guān)。運(yùn)用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的規(guī)范片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

　　4、基體金屬厚度：每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，丈量就不受基體金屬厚度的影響。

　　5、曲率：試件的曲率對(duì)丈量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在曲折試件的表面上丈量是不牢靠的。

　　6、基體金屬磁性質(zhì)：磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性改變的影響(在實(shí)踐運(yùn)用中，低碳鋼磁性的改變能夠認(rèn)為是輕微的)，為了防止熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)運(yùn)用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的規(guī)范片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。